Particle-induced X-ray emission ou proton-induced X-ray emission (PIXE) é uma técnica utilizada para caracterizar os elementos químicos de um material ou amostra. Quando um material é irradiado com um feixe iônico ocorre uma interação atômica e como consequência, o material emite um fóton característico com comprimento de onda na região do espectro eletromagnético dos Raios-X. A técnica PIXE é um poderoso método de caracterização elementar não destrutivo usado rotineiramente por físicos, geologistas, arqueólogos, restauradores de obras de artes dentre outros profissionais, inclusive podendo ser usado para fornecer respostas que vão desde como está a qualidade do ar que respiramos, até sobre a procedência, datação e autenticidade de uma obra de arte.

A técnica foi proposta inicialmente em 1970 por Sven Johansson da Universidade de Lund na Suécia e desenvolvida com seus colegas Roland Akselsson e Thomas B. Johansson.

Recentemente foi desenvolvida uma extensão da técnica usando feixes de diâmetros da ordem de 1μm dando uma capacidade de análises microscópicas. Essa técnica chamada de microPIXE, pode ser utilizada para determinar a distribuição de elementos traços em uma grande variedade de amostras. Uma técnica correlata chamada PIGE (particle-induced gamma-ray emission) pode ser utilizada para detectar alguns elementos mais leves.